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VANTA™, l’analyseur par fluorescence X d'Olympus, repousse les limites des analyses pour le recyclage, le tri des métaux et le tri du verre.
XRF VANTA™ permet une analyse élémentaire et une classification de l'aluminium et des alliages légers, des alliages non ferreux, des aciers faiblement alliés, du cuivre, des métaux précieux, des catalyseurs automobiles, des produits électroniques, ou encore du verre…
Doté de la technologie brevetée Axon™, l'équipement apporte plus de précision, plus de sensibilité, et un rapport signal sur bruit inégalé.
De sorte que pour les alliages d'aluminium, l'équipement est parfait pour déterminer rapidement et avec précision les teneurs en magnésium (Mg), un élément essentiel de leur composition. Les analyses durent souvent moins de 10 secondes, contre plus de 20 pour les analyseurs XRF portables de précédente génération.
Conçu pour les professionnels de terrain, l'analyseur XRF VANTA™ est portable. Il satisfait à l’indice de protection IP64 ou IP65 pour résister à la pluie, à la saleté et à la poussière. Il a également été testé pour la résistance aux chutes, conformément aux normes MIL-STD-810G, afin d'éviter les bris et pour maximiser sa disponibilité dans les environnements de travail exigeants.
Son interface intuitive offre une navigation aisée, rapide et personnalisable, façon « SmartPhone ». Un joystick est même prévu pour faciliter la navigation avec des gants.
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Reproduction interdite sauf accord de l'Éditeur.
Crédit photo visuel introductif : Olympus France / illustration : Olympus